IEEE设计与测试

Ieee Design & Test 出版商:IEEE Computer Society ISSN:2168-2356 E-ISSN:2168-2364

IEEE设计与测试基本信息 SCIE

IEEE设计与测试是一本在工程技术领域享有国际盛誉的优秀杂志,其国际简称为IEEE DES TEST,全称《Ieee Design & Test》,由知名出版机构IEEE Computer Society主办并发行。 自2013年创刊以来,该杂志一直致力于发表工程技术领域的专业学术论文,展现独特且具有前瞻性的科研成果。它不仅是学术交流的重要平台,更促进了国内外同行间的深入研讨与思想碰撞,为工程技术的发展做出了卓越贡献。

基本信息:
ISSN:2168-2356
E-ISSN:2168-2364
大类学科:工程技术
研究方向:COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE - ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
出版信息:
创刊时间:2013
出版地区:UNITED STATES
出版周期:6 issues/year
出版语言:English
评价信息:
年发文量:59
中科院分区:4区
JCR分区:Q3
CiteScore:3.8

IEEE设计与测试杂志介绍

IEEE设计与测试(Ieee Design & Test)(国际简称:IEEE DES TEST)是一本专注于工程技术领域的学术期刊。该期刊由知名的科学出版机构IEEE Computer Society出版。自2013年创刊以来,该杂志一直致力于推动COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE领域的知识创新和学术交流。杂志的内容丰富,覆盖了工程技术的的多个子领域,致力于发表工程技术各子领域的高质量研究。 杂志的审稿标准严格,并通过同行评审流程确保发表的文章达到学术界的标准。此外,作为工程技术领域的研究者和专业人士,IEEE设计与测试是一个不可或缺的资源,它不仅提供了最新的科研信息,也是了解该领域最新研究动态和趋势的重要窗口。

期刊CiteScore指数(2024年最新版)

CiteScore排名

CiteScore SJR SNIP CiteScore排名
3.8 0.489 0.757

学科类别

大类:Engineering 小类:Electrical and Electronic Engineering

分区

Q2

排名

354 / 797

百分位

55%

3.8 0.489 0.757

学科类别

大类:Engineering 小类:Hardware and Architecture

分区

Q3

排名

94 / 177

百分位

47%

3.8 0.489 0.757

学科类别

大类:Engineering 小类:Software

分区

Q3

排名

230 / 407

百分位

43%

CiteScore: 通过计算期刊在特定时间内发表的论文的平均引用次数来衡量期刊的影响力。CiteScore作为Scopus中一系列指标的一部分,与其他如SNIP(源文档标准化影响)和SJR(SCImago 杂志排名)等指标一起,为期刊评价提供了多维度的视角。

中科院分区

中科院SCI期刊分区2023年12月升级版

Top期刊 综述期刊 大类学科 小类学科
工程技术 4区
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 计算机:硬件
4区
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气
4区
中科院分区表: 旨在评估期刊的学术影响力,为学术投稿提供参考,为科研管理部门的宏观判断提供支撑。中科院分区表分区覆盖广泛,对JCR(Journal Citation Reports)的自然科学版(SCIE)和社会科学版(SSCI)的全部期刊进行分区,并提供大、小类两种学科分类体系的分区数据,帮助科研人员在特定学科领域内进行更精确的比较和选择。

WOS(JCR)分区(2023-2024年最新版)

按JIF指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE SCIE Q3 42 / 59

29.7%

学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q3 211 / 352

40.2%

按JCI指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE SCIE Q3 40 / 59

33.05%

学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q3 217 / 354

38.84%

期刊近年评价数据统计

中科院分区表

影响因子和CiteScore

IEEE设计与测试投稿注意事项

IEEE设计与测试(Ieee Design & Test)是由IEEE Computer Society 出版商出版的一本专业学术杂志,收稿方向涵盖工程技术全领域,在行业领域中学术影响力很大,作为行业内的优秀期刊,IEEE设计与测试在学术界享有极高的关注度和专业认可度,是COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE研究者发表重要学术成果的首选平台。尽管审稿速度6 issues/year,需要耐心等待,但这也是对学术质量的严格把控和尊重。 IEEE设计与测试近期未被列入任何国际期刊预警名单,其学术严谨性和出版标准得到了国际学术界的广泛认可。对于追求在顶级期刊发表研究成果的学者,我们强烈推荐关注并投稿至IEEE设计与测试。诚邀您将您的突破性研究成果投稿至IEEE设计与测试,与全球科研同仁共享您的学术洞见,并推动COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE的进步。

作者在撰写学术论文时,作者应严格遵守以下准则,以提升论文的学术质量和增加其被接受的可能性:

1、科学性与创新性:确保研究具有明确的科学依据,并且提供领域内的新见解或方法。

2、逻辑性:论文结构应清晰,论点连贯,使读者能够顺畅地理解作者的思考过程。

3、语言准确性:使用规范的科学术语和表达方式,避免语法错误和拼写错误,确保语言的专业性和准确性。

4、数据精确性:所有数据必须经过严格校验,包括表格、图表和计量单位,以确保研究结果的准确性和可信度。

5、文献引用:优先引用高质量、时效性强的文献,特别是目标期刊发表的相关文章,这有助于提升论文的学术权威性。

6、避免一稿多投:遵守学术规范,不得同时向多个期刊提交同一篇论文,以免触犯著作权法并损害个人学术声誉。

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