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新型比磁化系数测定仪的研究范文

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新型比磁化系数测定仪的研究

《机械杂志》2014年第六期

1磁极头的设计

测量结果的精准与否,与磁场的磁场分布有重要关系。为了减小误差,必须保证待测样品所处的磁场空间为均匀变化的磁场强度,而磁场的非均匀性是由磁极适当的磁场强度、尺寸和形状决定的[4]。Heyding等人研制了一种新型的磁极头,其剖面见图2[5]。通过ANSYS软件的模拟,可以确定该磁极头能够在一定空间内产生均匀变化的磁场强度,即恒定的磁场梯度,其轴向距离为24mm左右,满足测量装置的要求,其模拟结果如图3所示。

2自动测试系统的研制

传统的比磁化系数测定仪其测定结果输出的是待测物所受的磁力,且国内该类装置未能实现自动。为了快速便捷测定目的结果,本研究通过数据采集系统,将采集来的数据通过GPIB总线、单片机89c51、USB直接传入到计算机,通过计算分析直接显示待测样品的比磁化系数和矫顽力。其自动测试系统如图4所示。自动测试系统的各个仪器由GPIB总线连接在一起,GPIB总线以蕊片8255A为转接口链接到单片机89c51上,将单片机89c51接USB接口控制蕊片CH372,通过CH372引出USB传输线链接到PC机上,完成数据从仪表到计算机的传送。

3计算分析软件的编制

针对本测量装置,用VB编制了数据分析程序,程序的功能是:在待测样品的质量为m,玻璃管待测样品在磁场中上端和下端的磁场强度H1、H2,待测样品在玻璃管中的高度是l,加入正向磁场,天平显示是m1,加入反向磁场,天平显示的是m2的情况下,通过分析计算,求出待求待测物的磁性参数物质的比磁化系数γ和矫顽力B。其计算分析原理如下:0fmHGradH式中:m为待测物的质量;H为磁场强度;GradH为磁场梯度;μ0为真空磁导率;f为磁场力。同时:①磁场力f=m1g,m1为天平显示的质量;②磁场强度H=(H1+H2)/2,H1、H2为已知的磁场强度,是通过高斯计测所得的,分别代表玻璃管待测样品在磁场中上端和下端的磁场强度,待测样品在玻璃管中的高度是l;③GradH=(H1-H2)/l。知道m1,H1、H2,l,计算分析出物质的比磁化系数χ。加入反向磁场,天平显示的是m2.可以得到式中的磁场强度H。H/μ0=B,B为矫顽力,改程序最终输出要输出的是矫顽力B和比磁化系数χ,该程序软件的界面如图5所示。

4结论

(1)本文所研究的比磁化系数测定仪,采用了新型磁极头,避免了该类传统装置的弊端,所测定的结果更加精确,并且能够同时测定物质的比磁化系数和矫顽力两个物质的磁性参数。(2)本装置完成了GPIB接口到即使即用、方便快捷的USB接口的转化,数据能够快速的由测定装置传输到计算机内,计算机内装有编制好的计算分析软件,使得数据由测定到计算分析到输出结果的自动化、智能化。

作者:张大勇张韶敏张旦单位:北京首矿工程技术有限公司